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能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀光學(xué)儀器設(shè)備

簡(jiǎn)要描述：能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀光學(xué)儀器設(shè)備：能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀是利用X射線(xiàn)熒光效應(yīng)進(jìn)行元素分析的儀器。因具備無(wú)損和快速分析的特點(diǎn)，在各行業(yè)需要元素分析的場(chǎng)合有十分廣泛的應(yīng)用。

廠(chǎng)商性質(zhì)：工程商
更新時(shí)間：2025-12-15
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)：2082

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詳細(xì)介紹

品牌	廣電計(jì)量	波長(zhǎng)準(zhǔn)確度	CuKa峰10次分析相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD<0.1%nm
產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	分辨率	MnKa 半峰寬<140eVnm
尺寸	440mm×480mm×360mm	重量	60kg

型號(hào)

EDX-SF8018

規(guī)格

尺寸（長(zhǎng)寬高）： 440mm×480mm×360mm

重量： 60kg

產(chǎn)品特點(diǎn)

能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀光學(xué)儀器設(shè)備：

配置：銠靶X光管、電致冷SDD探測(cè)器、五種自動(dòng)切換的濾光片、五種自動(dòng)切換的光瀾、12位轉(zhuǎn)盤(pán)、光學(xué)攝相頭，可選配真空系統(tǒng)、氦氣系統(tǒng)

分析方法：定性分析、工作曲線(xiàn)法、基本參數(shù)法(FP法)、薄膜基本參數(shù)法(薄膜FP法)

元素分析范圍：11Na~92U

分辨率：MnKa 半峰寬<140eV

精度：CuKa峰10次分析相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD<0.1%

工作溫度：10℃～+30℃

其他

能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀光學(xué)儀器設(shè)備：

包裝清單：能量色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀主機(jī)*1、電腦*1、電源線(xiàn)*1、USB數(shù)據(jù)線(xiàn)*2、包裝箱*1、軟件光盤(pán)*1、使用手冊(cè)*1

貨期：60天

質(zhì)保期：1年

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